6月12日，机电工程学院举办2026年“精一讲堂・教授有约”系列学术交流活动，胡晓凯教授作《热电测试新技术—我的科技考古学》的学术报告。近30名师生到场参与学习交流。
报告回顾了热电子学的科技发展史和应用场景，引出影响热电器件性能优劣的四个关键材料参数。根据行业测试需求，创新了圆片样品电阻率和塞贝克系数的测试方法，经仿真模拟和实验验证。构建了激光闪烁法（LFA）测试热扩散系数和比热容的双面散热解析函数模型以及曲线拟合的数据处理方法，加强了LFA法测试比热容的信心。针对界面电阻率，介绍了三点拟合法，滑动扫描探针法和基于平面电极的测试技术以及仪器研制；建立双传输线电路模型，创新获得的三个等效双曲函数解析方程可推广至微电子芯片标准测试技术中。
现场交流氛围热烈，胡晓凯教授结合自身在热电测试新技术等领域的研究经历，与在场师生深入交流。师生们踊跃提问，胡教授逐一细致解答，鼓励同学们学好用好高等数学知识和数学物理方法，解决工程技术问题。
