为推进我校仪器科学与技术学科建设，加强学术交流与合作，提升学校影响力，及推进测试技术领域学术交流与产学研协同创新，助力高水平科技自立自强，由中国电子学会电子测量与仪器分会主办，我校联合北京方略博华文化传媒有限公司和《电子测量与仪器学报》承办2026 未来测试技术发展学术会议。会议拟于2026 年 6 月 13 日-14 日在桂林宾馆召开。

本次会议围绕人工智能时代未来测试技术前沿探索与实践展开研讨，为高校、科研院所、企事业单位专家、学者、工程师提供交流经验、对接合作、展示成果的平台。会议诚邀各界相关人员参会交流，征稿主题包括但不限于：智能测试技术、集成电路测试、AI 赋能计量、无人系统测试、光纤智能感知、宽带信号采样、医疗检测技术等。稿件择优推荐至核心期刊发表。

欢迎广大师生、专家学者积极参会、踊跃投稿。

https://iw.guet.edu.cn/2026/0506/c4753a152426/page.htm